High-fidelity entanglement of metastable trapped-ion qubits with integrated erasure conversion

A. Quinn, G. J. Gregory, I. D. Moore et al. · 2024 · arXiv:2411.12727

| 编号 QE350 | 主题 硬件实验与里程碑 | 链接 arXiv:2411.12727 |

摘要

摘要保留原文（英文）

摘要取自 arXiv / 出版方元数据，未作翻译，以保证与原文一致。

离子阱亚稳态比特间高保真纠缠并集成擦除转换：自发 Raman 散射为主的错误源映射到可检出泄漏通道，实验演示带擦除 heralding 的纠缠门。

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