Experimental validation of a compact fault-tolerant architecture for trapped ions

Noah Berthusen, Ali Lavasani, Asmae Benhemou et al. (14 人) · 2026 · arXiv:2609.03194

| 编号 QE370 | 主题 硬件实验与里程碑 | 链接 arXiv:2609.03194 |

摘要

摘要保留原文（英文）

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紧凑离子阱容错架构的实验验证：高码率码+长程连接的架构级主张在真实硬件上的系统性检验。

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